2026年7月31日 2026年7月31日プレスリリース

注目の技術「ZnGa₂O₄ナノ粒子薄膜による放射線センシング」を開発！

「ZnGa₂O₄ナノ粒子薄膜による放射線センシング」のご紹介

ZnGa₂O₄は、4.6～4.8 eV級の広いバンドギャップを持つ酸化物半導体で、光電子デバイスや放射線検出材料として注目されています。
本技術では、マイクロ波加熱による水熱合成によりZnGa₂O₄ナノ粒子を合成し、これを用いた薄膜を形成しました。
開発したZnGa₂O₄薄膜を用いた簡易的なX線直接変換型検出器による実証実験では、X線量の検出を確認しました。高透明性のため既存光学系との親和性に優れ、大面積・フレキシブル基板にも対応します。
ZnGa₂O₄薄膜を活用することで、従来のX線検出技術と比較し、リアルタイム計測やシステムの簡素化が期待されます。

（想定される用途）
・医療用X線診断装置の線量モニタリング
・放射線治療時の線量管理
・紫外線センサーや火炎検知システム

開発者　東京電機大学理工学部　教授石井聡

■掲載ページ
https://shinshu-tlo.co.jp/technology/k003-0052/